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影響光譜量測套組測量的因素都有哪些?
更新時間:2021-06-23
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光譜量測套組
用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角,同時也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系,計(jì)算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。
影響光譜量測套組測量的因素
1.物理干擾
物理干擾是指在樣品轉(zhuǎn)移和蒸發(fā)過程中任何物理因素變化引起的干擾效應(yīng)。屬于此類干擾的因素包括:測試溶液的粘度、溶劑的蒸氣壓、霧化氣體的壓力等。物理干擾是非選擇性干擾,對樣品元素的影響基本相似。
制備類似于測試樣品的標(biāo)準(zhǔn)樣品是消除物理干擾的常用方法。當(dāng)樣品的成分未知或無法匹配時,可以使用標(biāo)準(zhǔn)添加方法或稀釋方法來減少和消除物理干擾。
2.化學(xué)干擾
化學(xué)干擾是指由光譜量測套組測試元件與其他組件之間的化學(xué)相互作用引起的干擾效應(yīng)。它主要影響測試元件的原子化效率,并且是原子吸收分光光度法中干擾的主要來源。這是由于在液相或氣相中被測元素的原子與干擾物質(zhì)的組成之間形成了熱力學(xué)更穩(wěn)定的化合物,這影響了被測元素化合物的離解和原子化。
消除化學(xué)干擾的方法包括:化學(xué)分離;使用高溫火焰;加入釋放劑和保護(hù)劑等。
3.電離干擾
高溫下原子的電離會降低基態(tài)原子的濃度,并導(dǎo)致原子吸收信號降低,這種干擾稱為電離干擾。電離效應(yīng)隨溫度和電離平衡常數(shù)的增加而增加,而隨被測元素濃度的增加而減小。添加更容易電離的堿金屬元素可以有效消除電離干擾。
4.光譜干擾
光譜干擾包括譜線重疊、光譜通帶內(nèi)存在非吸收線、原子化池內(nèi)的直流發(fā)射、分子吸收、光散射等。當(dāng)采用銳線光源和交流調(diào)制技術(shù)時,前3種因素一般可以不予考慮,主要考慮分子吸收和光散射地影響,它們是形成光譜背景的主要因素。
5.分子吸收干擾
分子吸收干擾是指由原子化過程中產(chǎn)生的氣體分子,氧化物和鹽分子吸收輻射引起的干擾。光散射是指在霧化過程中生成的固體顆粒會散射光,從而使光譜量測套組散射光偏離光路,并且無法被檢測器檢測到,從而導(dǎo)致高吸收值。
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